FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237

Гальваническое производство

Гальваническое производство

Микроэлектроника

Микроэлектроника

Приборостроение

Приборостроение

Ювелирная промышленность

Ювелирная промышленность

Аэрокосмическая промышленность

Аэрокосмическая промышленность

Автомобильная промышленность

Автомобильная промышленность

Судо­строение

Судо­строение

Атомная промышленность

Атомная промышленность

Чёрная металлургия

Чёрная металлургия

Цветная металлургия

Цветная металлургия

Рентгенофлуоресцентный спектрометр-толщиномер с измерительным и высокопроизводительным вычислительным модулем для определения тонких покрытий, микроэлементов, сплавов, электролитов

Описание

Конструктивно измерительная система FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 аналогична XDLM. Разница заключается в типе детектора. В приборе XDAL 237 используется детектор на кремниевом PIN-диоде с охлаждением на элементе Пельтье, имеющий существенно более высокое разрешение по энергии, чем у пропорциональной счетной трубки, которой оснащен прибор XDLM. Поэтому эта модель подходит для общего анализа материалов, определения следовых количеств веществ и измерения толщины тонких покрытий.

В качестве источника рентгеновского излучения используется микрофокусная трубка, обеспечивающая разрешение мелких участков мишени. Однако ввиду относительно малой площади активной области детектора (по сравнению с пропорциональной счетной трубкой) модель XDAL 237 лишь ограниченно пригодна для анализа очень мелких структур или применений с очень малым размером зоны измерения, поскольку регистрирует только малые значения интенсивности. Как и в XDLM, диафрагмы и фильтры можно сменять автоматически для создания оптимальных условий возбуждения при решении различных измерительных задач.

Модель FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 оборудована большой измерительной камерой, позволяющей исследовать образцы сложной формы. Благодаря регулируемой оси Z с автоматическим приводом возможна работа с образцами высотой до 140 мм. Для крупных плоских образцов, таких как печатные платы, в корпусе предусмотрен С-образный боковой вырез. Измерительная система оснащена быстродействующей программируемой XY-платформой, с помощью которой можно легко исследовать поверхности образца в режиме картографирования.

Кроме того, предусмотрена возможность программирования и автоматического выполнения последовательных измерений на компонентах (например, выводных рамках), а также на множестве компонентов, в т. ч. разнотипных.

Отличительные особенности

  1. Измерение и анализ очень тонких покрытий даже при очень сложных композициях или в небольших концентрациях элементов.
  2. Программируемая X/Y-платформа позволяет использовать прибор для автоматизированных измерений в области обеспечения качества и контроля производства.

Дополнительные принадлежности

  1. WinFTM V.6 SUPER XAN/XDAL/XDVM (603-654).
  2. ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).

Характеристики

  • Диапазон измеряемых элементов: от Al (z=13) до U (z=92).
  • Одновременный анализ до 24 элементов и 24 слоев.
  • Кремниевый PIN (полупроводниковый) детектор с охлаждающим элементом Пельтье (не нуждается в охлаждении жидким азотом).
  • Измерительная платформа (оси XY): быстро перемещаемая, с электромотором, можно программировать перемещение.
  • Вертикальный детектор (ось Z): перемещаемый.
  • Крышка измерительной камеры: открывающаяся вверх, с прозрачной передней панелью.
  • Увеличенная камера c щелевым отверстием для измерения работы с плоскими образцами.
  • Микрофокусная трубка.
  • Цветной видеомикроскоп и лазерный указатель для ориентации образца и наблюдения за местом измерения.
  • Точная настройка может производиться вручную или с помощью джойстика, или с ПК при помощи мыши и клавиатуры.
  • Возможность установки напряжения источника рентгеновского излучения: 10, 30 или 50 кВ
  • Коллиматоры: 0,1 мм; 0,3 мм; 0,6 мм; 0,5x0,15 мм.
  • Измерения проводятся сверху вниз.
  • Размеры измерительной камеры (Ширина x глубина x высота): 237: 460 х 495 х 146 мм,
  • Максимальный вес измеряемого образца: до 5 кг; до 20 кг - с уменьшением точности перемещения.
  • Максимальная высота образца: до 140 мм.
  • Рабочие температуры: 10 °C – 40 °C; температура хранения: 0 °C – 50 °C.
  • Программное обеспечение Win FTM V.6 BASIC + PDM.
  • Вес прибора – 115 кг.
  • Прибор поставляется с компьютером, монитором, калибровочным набором из чистых элементов.

Примеры

  • Измерение толщины покрытий, анализ материалов и сплавов (в т. ч. тонких покрытий, сплавов с низкой концентрацией элементов) .
  • Входной контроль, контроль производственных процессов.
  • НИОКР.
  • Электронная промышленность.
  • Соединители и контакты.
  • Ювелирная и часовая промышленность.
  • Измерение толщины тонких золотых и палладиевых покрытий при производстве печатных плат.
  • Определение следовых количеств веществ.
  • Анализ покрытий из твердых материалов.

Похожие товары

Партнеры