Серия FISCHERSCOPE XDL, XDLM

Гальваническое производство

Гальваническое производство

Микроэлектроника

Микроэлектроника

Приборостроение

Приборостроение

Ювелирная промышленность

Ювелирная промышленность

Аэрокосмическая промышленность

Аэрокосмическая промышленность

Судо­строение

Судо­строение

Атомная промышленность

Атомная промышленность

Чёрная металлургия

Чёрная металлургия

Цветная металлургия

Цветная металлургия

Серии FISCHERSCOPE X-RAY XDL и XDLM тесно связаны с сериями XUL и XULM: в них используются одинаковые детекторы, диафрагмы и комбинации фильтров. Приборы серии XDL также оснащаются стандартной рентгеновской трубкой и фиксированной диафрагмой, которые хорошо подходят для измерений на крупных образцах

Описание

В приборах серии XDLM в качестве источника рентгеновского излучения используется микрофокусная трубка, позволяющая выполнять измерения на мелких структурах и улучшающая возбуждение низкоэнергетических компонентов. Кроме того, эти приборы оборудуются автоматически сменяемыми диафрагмами и фильтрами, позволяющими гибко создавать оптимальные условия возбуждения при решении различных измерительных задач. В обеих сериях детектором служит пропорциональная счетная трубка. Увеличенная площадь детектора позволяет регистрировать достаточно высокие значения скорости счета даже при малых размерах зоны измерения, что обеспечивает хорошую сходимость результатов измерения.

Приборы серий XDL и XDLM отличаются от XUL и XULM тем, что измерение в них производится снизу-вверх. Они спроектированы как удобные в использовании модульные настольные приборы, которые могут дооснащаться простой подставкой для образца, XY-платформами различных типов и вертикальными осями (Z) в зависимости от предъявляемых требований.

В модификации с программируемой XY-платформой приборы серии XDL могут использоваться для последовательного контроля изделий в автоматическом режиме. С их помощью можно легко сканировать поверхности и проверять их на предмет однородности. Для простого и быстрого позиционирования образца обеспечивается автоматическое перемещение (выдвижение) XY-платформы в загрузочное положение при открытии крышки прибора, а зона измерения обозначается лазерным указателем. Для крупных плоских образцов, таких как печатные платы, в корпусе предусмотрен С-образный боковой вырез. Благодаря измерительной камере большого объема с удобным доступом внутрь эти приборы подходят для измерений не только на плоских объектах, но и на крупных образцах сложной формы высотой до 140 мм. В приборах, оснащенных осью Z, расстояние измерения свободно устанавливается в диапазоне от 0 до 80 мм, что делает возможными измерения в выступах или на неровных объектах (с использованием метода DCM).

Дополнительные принадлежности

  1. SOFTWARE PDM (602-419.
  2. SOFTWARE WinFTM SUPER + PDM (602-463.
  3. ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).

Характеристики

  • Диапазон измеряемых элементов: от Сl (17) до U(92)
  • Одновременный анализ до 24 элементов
  • Измерения проводятся сверху вниз
  • Детектор – пропорциональный счётчик, высокая скорость счёта
  • Рентгеновская трубка: микрофокусная вольфрамовая трубка с бериллиевым окном
  • Возможность установки напряжения источника рентгеновского излучения: 30, 40 или 50 кВ
  • Круглый коллиматор диаметром 0.3 мм (дополнительно: круглые коллиматоры 0.1 мм, 0,2 мм и щелевой 0,3 х 0,05 мм)
  • Минимальное измерительное пятно диаметром 0.2 мм; размер измерительного пятна зависит от расстояния измерения и установленного коллиматора, выводится на видеоизображение
  • Цветная видеокамера высокого разрешения для наблюдения в области измерения, направлена по оси первичного рентгеновского пучка; ручной и авто-фокус.
  • Рабочие температуры: 10 °C – 40 °C,
  • Температура хранения прибора: 0 °C – 50 °C
  • Прибор поставляется с компьютером с операционной системой Windows и программным обеспечением FISCHER WinFTM LIGHT (дополнительно: WinFTM BASIC, PDM, SUPER).

Опорная платформа для измеряемого образца:

 

 

XDL 210

XDL 220

XDL 230

XDL 240

Исполнение

Фиксированная платформа

Фиксированная платформа

Платформа, перемещаемая вручную в плоскости XY

Платформа с программным управлением в плоскости XY

Максимальное перемещение в плоскости XY

95 х 105 мм

255 х 235 мм

Скорость перемещения в плоскости XY

≤ 80 мм/с

Точность позиционирования в плоскости XY

≤ 0,01* мм

Пространство для размещения образца

463 х 500 мм

463 х 500 мм

420 х 450 мм

300 х 350 мм

Ось Z

Фиксированное положение (наверху, посередине, внизу)

Электрическое управление

Электрическое управление

Программное управление

Перемещение по оси Z

140 мм

140 мм

140 мм

Максимальный вес образца

20 кг

20 кг

20 кг

5 / 20** кг

Максимальная высота образца

155 / 90 / 25 мм

140 мм

140 мм

140 мм

Лазерный индикатор для точного размещения образца

Есть

Есть

Примеры

Используемый метод фундаментальных параметров позволяет анализировать образцы как в твердой, так и в жидкой фазе, а также покрытия без калибровки.

Измерительная система XDLM часто используется для измерения покрытий Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/ Ni или Sn/Ni по основам из различных материалов (например, сплавам меди или железа), роль которых играют соединители и контакты. Зачастую рабочей частью изделия служат мелкие структуры, такие как наконечники или острия, для которых необходимо использовать очень малые диафрагмы или диафрагмы специальной формы, чтобы свести к минимуму влияние геометрии образца. Например, при выполнении измерений на продолговатых образцах для получения максимальной интенсивности используют щелевые диафрагмы.

Партнеры