FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

Приборостроение

Приборостроение

Строительство сооружений

Строительство сооружений

Строительство трубопроводов

Строительство трубопроводов

Ювелирная промышленность

Ювелирная промышленность

Аэрокосмическая промышленность

Аэрокосмическая промышленность

Автомобильная промышленность

Автомобильная промышленность

Судо­строение

Судо­строение

Атомная промышленность

Атомная промышленность

Чёрная металлургия

Чёрная металлургия

Цветная металлургия

Цветная металлургия

Рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер с высокоточной программируемой X/Y платформой, возможностью перемещения по оси Z, измерительным и высокопроизводительным вычислительным модулем. Это универсальный прибор для широкого круга задач. Предназначен для автоматизированных измерений очень тонких покрытий, малых концентраций элементов, микроэлементов, сплавов, электролитов.

Описание

Прибор FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD оснащен кремниевым дрейфовым детектором с большой площадью чувствительной области и хорошим разрешением по энергии. В сочетании с диафрагмами большого размера это позволяет регистрировать очень высокие значения скорости счета, что обуславливает великолепную сходимость результатов измерений и очень низкий порог чувствительности. Модель XDV-SDD особенно хорошо подходит для измерения толщины самых тонких покрытий и определения следовых количеств веществ. За счет повышенной чувствительности детектора к низкоэнергетическому рентгеновскому излучению расширяется в область низких атомных чисел диапазон определяемых прибором элементов, что позволяет, например, надежно измерять содержание фосфора или алюминия в воздухе.

Благодаря измерительной камере большого объема с удобным доступом внутрь этот прибор подходит для измерений на плоских объектах и крупных образцах сложной формы. Чтобы можно было создать идеальные условия возбуждения для каждого измерения, прибор XDV-SDD оснащен сменными диафрагмами и первичными фильтрами. Быстродействующая программируемая XY-платформа позволяет легко выполнять последовательные измерения толщины покрытия и распределения элементов в составе. Дружественный к пользователю интерфейс, широко открывающаяся крышка и органы управления на передней панели облегчают повседневную эксплуатацию прибора.

Видеокамера высокого разрешения с большим коэффициентом увеличения, обеспечивающая визуальный контроль в процессе работы, упрощает точное определение места измерения. Дополнительным подспорьем служит лазерный указатель, помогающий быстрее придать образцу нужное положение. Благодаря своим широким возможностям и универсальной конструкции прибор XDV-SDD идеально подходит для НИОКР, аттестации технологических процессов и лабораторного применения, а надежность и удобство пользования делают его ценным инструментом обеспечения качества и контроля производственных процессов.

Особенности

  • измерение и анализ очень тонких покрытий даже при очень сложных композициях или в небольших концентрациях элементов;
  • программируемая X/Y-платформа позволяет использовать прибор для автоматизированных измерений в области обеспечения качества и контроля производства.

Дополнительные принадлежности

  1. WinFTM V.6 SUPER XAN/XDAL/XDVM (603-654).
  2. ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).

Характеристики

  • Диапазон измеряемых элементов: от Al (z=13) до U (z=92).
  • Одновременный анализ до 24 элементов и 24 слоев.
  • Кремниевый PIN (полупроводниковый) детектор с охлаждающим элементом Пельтье (не нуждается в охлаждении жидким азотом).
  • Измерительная платформа (оси XY): быстро перемещаемая, с электромотором, можно программировать перемещение.
  • Вертикальный детектор (ось Z): перемещаемый.
  • Крышка измерительной камеры: открывающаяся вверх, с прозрачной передней панелью.
  • Увеличенная камера c щелевым отверстием для измерения работы с плоскими образцами.
  • Микрофокусная трубка.
  • Цветной видеомикроскоп и лазерный указатель для ориентации образца и наблюдения за местом измерения.
  • Точная настройка может производиться вручную или с помощью джойстика, или с ПК при помощи мыши и клавиатуры.
  • Возможность установки напряжения источника рентгеновского излучения: 10, 30 или 50 кВ
  • Коллиматоры: 0,1 мм; 0,3 мм; 0,6 мм; 0,5x0,15 мм.
  • Измерения проводятся сверху вниз.
  • Размеры измерительной камеры (Ширина x глубина x высота): 237: 460 х 495 х 146 мм,
  • Максимальный вес измеряемого образца: до 5 кг; до 20 кг - с уменьшением точности перемещения.
  • Максимальная высота образца: до 140 мм.
  • Рабочие температуры: 10 °C – 40 °C; температура хранения: 0 °C – 50 °C.
  • Программное обеспечение Win FTM V.6 BASIC + PDM.
  • Вес прибора – 155 кг.
  • Прибор поставляется с компьютером, монитором, калибровочным набором из чистых элементов.

Примеры

  • Измерение толщины покрытий, анализ материалов и сплавов (в т. ч. тонких покрытий, сплавов с низкой концентрацией элементов).
  • Входной контроль, контроль производственных процессов.
  • НИОКР.
  • Электронная промышленность.
  • Соединители и контакты.
  • Ювелирная и часовая промышленность.
  • Измерение толщины тонких золотых и палладиевых покрытий при производстве печатных плат.
  • Определение следовых количеств веществ.
  • Анализ покрытий из твердых материалов.

Партнеры